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第二届IC测试研讨会报名

时间:2013-08-10 16:28来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

时间:2013年9月14日(星期六) 13:00-17:30
地点:上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡(地铁2号线张江高科站)

  在第一届IC测试研讨会成功举办后(第一届详情请点击),我们的第二届研讨会,也将在广大IC测试工程师的期待下如期举行。有了第一次的经验,相信本次的研讨会将会更加成功,为您带来更多收获……。届时除了给力的奖品外,众多IC测试干货将会悉数推出,绝对是一场不可错过的IC测试盛宴!我们盛情邀请您的参与,让我们一起分享这份IC测试大餐吧……

  报名请将姓名,公司,职务,电话,QQ,Email等信息发送至:

邮箱:794277694@qq.com
Q Q:794277694 (添加请注明IC测试)
新浪微博:http://weibo.com/ictest8 的私信亦可报名
欢迎加入IC测试QQ群:111938408

为保证质量,本次研讨会限额100人,报名截止日期9月10日,先报先得,大家尽快哦……

本次活动仍以公益为主,场地费、茶点费大家均摊,费用¥50每人。

活动宗旨:

1、加强同行间技术交流

2、加强产业链资源共享

3、了解行业最新资讯

4、技术难题会诊解决

  作为测试工程师,做测试到底需要做做什么,如何做好,如何体现个人价值,如何确定发展方向,做测试,到底有什么前途?习惯埋头苦干的你,也特别需要抬头看路,本活动将会为你指明方向,扫清障碍,为你的将来添一把力!还犹豫什么,抓紧来参加我们的研讨会吧!

简单议程如下,可能会有调整:

时间
报告主题
演讲人
13:00-13:30
签到
-
13:30-13:40
开场致辞
-
13:40-14:40

《LDO开发注意事项》

1. LDO常见测试参数介绍(O/S, IQ, ISHDN, IFB, IEN, VEN-hi,  VEN-lo, VEN-hys, LDR, LNR, ICL, ISHORT, VREF, VOUT)
2. 其它测试参数(VPG-TH, VPG-HYS, VPG-LO, TST, PSRR)
3. 测试开发中对一些重点参数的注意事项
 i. 硬件设计技巧及注意事项
 ii. 程序开发技巧及注意事项

通过对LDO产品测试开发的介绍,让大家了解常见的模拟电路测试相关原理,并着重介绍一些测试开发中的注意事项,比如,如何选择合适的测试资源,如何最大限度的利用测试资源,常用的调试和验证方法等等,如何建立一些良好的测试开发习惯,等等

业界资深测试工程师

---jerry 高

14:40-15:40

《Highspeed Loadboard Design》

Part1 Mechanical Part
Part2 Electrical Part
Part3 PCB material
Part4 PCB manufacture

贤宸电子 资深设计经理

---孙志强

15:50-16:50

《测试工程师需要具备的思想及需要掌握的相关技术》

1. 测试工程师需要具备的思想
2. 测试开发涉及到的相关技术介绍
3. 测试硬件相关技术的重要性
4. 测试软件相关技术的重要性
5. 其它技术的作用

测试工程师的主要工作内容是什么?为什么要做测试?如何做好测试?
测试工程师的工作重点是什么?努力方向在哪里?
如何发挥和体现测试的重要性?如何持续不断地加强自身的测试能力?
测试开发在整个半导体研发中的地位和重要性在哪里?
在这里,我们愿意和一起分享和探讨。

业界资深测试工程师

---jerry 高

16:50-17:20
《测试工程师的职业发展规划》
SOC测试开发资深人士
James 关牮
17:20-17:30
自由交流、合影留念
-

IC测试公益活动,欢迎业界爱心人士捐赠,让我们一起帮助更多的人,感谢……

爱心赞助请点击爱心赞助 感谢……

 

ictest8.com 活动小组

2013.08.10

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