第二届IC测试研讨会报名

时间：2013年9月14日（星期六） 13:00-17:30
地点：上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡（地铁2号线张江高科站）

　　在第一届IC测试研讨会成功举办后（第一届详情请点击），我们的第二届研讨会，也将在广大IC测试工程师的期待下如期举行。有了第一次的经验，相信本次的研讨会将会更加成功，为您带来更多收获……。届时除了给力的奖品外，众多IC测试干货将会悉数推出，绝对是一场不可错过的IC测试盛宴！我们盛情邀请您的参与，让我们一起分享这份IC测试大餐吧……

　　报名请将姓名，公司，职务，电话，QQ，Email等信息发送至：

邮箱：794277694@qq.com
Q Q：794277694 （添加请注明IC测试）
新浪微博：http://weibo.com/ictest8 的私信亦可报名
欢迎加入IC测试QQ群：111938408

为保证质量，本次研讨会限额100人，报名截止日期9月10日，先报先得，大家尽快哦……

本次活动仍以公益为主，场地费、茶点费大家均摊，费用￥50每人。

活动宗旨：

1、加强同行间技术交流

2、加强产业链资源共享

3、了解行业最新资讯

4、技术难题会诊解决

　　作为测试工程师，做测试到底需要做做什么，如何做好，如何体现个人价值，如何确定发展方向，做测试，到底有什么前途？习惯埋头苦干的你，也特别需要抬头看路，本活动将会为你指明方向，扫清障碍，为你的将来添一把力！还犹豫什么，抓紧来参加我们的研讨会吧！

简单议程如下，可能会有调整：

时间	报告主题	演讲人
13:00-13:30	签到	-
13:30-13:40	开场致辞	-
13:40-14:40	《LDO开发注意事项》 1. LDO常见测试参数介绍（O/S, IQ, ISHDN, IFB, IEN, VEN-hi, 　VEN-lo, VEN-hys, LDR, LNR, ICL, ISHORT, VREF, VOUT） 2. 其它测试参数(VPG-TH, VPG-HYS, VPG-LO, TST, PSRR) 3. 测试开发中对一些重点参数的注意事项　i. 硬件设计技巧及注意事项　ii. 程序开发技巧及注意事项通过对LDO产品测试开发的介绍，让大家了解常见的模拟电路测试相关原理，并着重介绍一些测试开发中的注意事项，比如，如何选择合适的测试资源，如何最大限度的利用测试资源，常用的调试和验证方法等等，如何建立一些良好的测试开发习惯，等等	业界资深测试工程师 ---jerry 高
14:40-15:40	《Highspeed Loadboard Design》 Part1 Mechanical Part Part2 Electrical Part Part3 PCB material Part4 PCB manufacture	贤宸电子资深设计经理 ---孙志强
15:50-16:50	《测试工程师需要具备的思想及需要掌握的相关技术》 1. 测试工程师需要具备的思想 2. 测试开发涉及到的相关技术介绍 3. 测试硬件相关技术的重要性 4. 测试软件相关技术的重要性 5. 其它技术的作用测试工程师的主要工作内容是什么？为什么要做测试？如何做好测试？测试工程师的工作重点是什么？努力方向在哪里？如何发挥和体现测试的重要性？如何持续不断地加强自身的测试能力？测试开发在整个半导体研发中的地位和重要性在哪里？在这里，我们愿意和一起分享和探讨。	业界资深测试工程师 ---jerry 高
16:50-17:20	《测试工程师的职业发展规划》	SOC测试开发资深人士 James 关牮
17:20-17:30	自由交流、合影留念	-

IC测试公益活动，欢迎业界爱心人士捐赠，让我们一起帮助更多的人，感谢……

爱心赞助请点击感谢……

ictest8.com 活动小组

2013.08.10

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