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上海顶策科技亮相南京世界半导体大会

时间:2024-06-13 18:22来源: IC测试之家 作者:ictest8_edit 点击:

 

在刚刚落幕的南京世界半导体大会上,上海顶策科技以其前沿的半导体测试技术和解决方案,赢得了行业内外的广泛关注。作为一家专注于集成电路测试技术服务的领先企业,上海顶策科技不仅展示了其最新研究成果,创始人孙鹏程先生也带来了精彩的测试技术演讲,深度分享了行业洞见。
 
 

本次大会聚集了来自全球的半导体行业精英,共同探讨行业发展趋势,交流创新技术。在此背景下,上海顶策科技的参展和创始人孙鹏程先生的分享成为了大会的一大亮点。

 

创始人孙鹏程的测试技术分享

 
 
此次的演讲主题为“[芯片HTOL测试技术探讨]”,在分享中,详细介绍了上海顶策科技在半导体测试领域的最新研究进展,包括但不限于[具体技术或产品]的应用与发展。通过生动的案例分析,孙鹏程先生向与会者展示了如何通过高级测试技术提高产品性能和可靠性,以及如何应对当前半导体测试面临的挑战。

演讲中,特别强调了技术创新对于推动行业发展的重要性,以及上海顶策科技在这一过程中所扮演的角色。现场的互动环节,听众踊跃提问,孙鹏程先生也耐心解答,使得整个分享会场面热烈且充满活力。

也受邀电视台采访,顶策科技创始人孙鹏程谈到了公司的核心竞争优势——持续的创新力和紧密跟随市场趋势的能力。我们强调了半导体行业对于推动现代科技进步的重要性,并展望了未来技术的发展方向。

 

“随着全球半导体产业的持续发展与深化,上海顶策科技将继续秉承创新、专业的理念,不断突破技术瓶颈,为行业提供更多高效、精准的测试解决方案。我们相信,通过不断的技术革新与优质的服务,上海顶策科技将携手行业伙伴共同开创半导体产业的美好未来。

 

最后,再次感谢南京世界半导体大会为全球半导体行业提供的交流平台,上海顶策科技期待与更多行业同仁携手合作,共同推进半导体技术的进步。我们期待在不久的将来再次与大家相聚!
 
 
 
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