探针分类 　　探针根据电子测试用途可分为：
A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品； 　　
B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品； 　　
C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。 　　
探针主要类型：悬臂探针和垂直探针。 　　
悬臂探针：劈刀型（Blade Type）和环氧树脂型（Epoxy Type） 　　垂直探针：垂直型（Vertical Type） 　
1.ICT探针　（ICT series Probes) 　　一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试．也称ICT测试和FCT测试．也是目前应用较多的一种探针． 　　
2.界面探针(Interface Probes) 　　非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达（Teradyne)和安捷伦（Agilent)．用于测试机台与测试夹具的接触点和面． 　
3.微型探针（MicroSeries Probes) 　　两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm． 　　
4.开关探针（Switch Probes) 　　开关探针单独一支探针有两路电流． 　　
5.高频探针（Coaxial Probes) 　　用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的． 　　
6.旋转探针（Rotator Probes) 　　弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试． 　　
7.高电流探针（High Current Probes) 　　探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amps. 　　
8.半导体探针 (Semiconductor Probes) 　　直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz,50Ω characteristic 　　
9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts) 　　一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长． 　　
除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用．

半导体测试探针，半导体测试探针，半导体测试探针2.电子测试探针(PCB光板测试;ICT载线测试;功能测试;复合治具测试)