专题讲座

对于大规模数字集成电路或SOC芯片的设计而言，其功能仿真向量通常有VCD/EVCD（基于事件）、WGL/STIL/TDL（基于时序）等几种文件格式。这些文件必须借助于专用工具（软件）转换成为ATE测试向量，才能被ATE测试平台（如ADVANTEST 93000、TERADYNE J750等）识别并进行测试。

市面上不乏这样的转换软件，区别主要在于转换的效率和准确性。可即便是最好的转换软件，也无法避免人工设置复杂的时序信息所造成的逻辑错误和时序偏移（主要针对VCD格式）。遇到这种情况，往往需要资深的测试工程师和设计工程师一起，耗费大量时间和精力才能发现并调试解决。

在此，我们向大家介绍以色列TestInsight公司的两款产品，它们可以帮助用户近乎完美地解决向量转换过程中遇到的各种问题，为用户节约大量的时间和经费。

Tester Data Link
Wave Wizard的最新升级版本，其转换效率和准确性都堪称一流，是目前业界最好的设计到测试向量转换软件，拥有很高的市场占有率和用户认可度。

Virtual Tester
在流片前基于“虚拟ATE”为用户提供真实的ATE测试环境，验证转换后的测试向量能否通过ATE测试，从而发现和纠正向量转换过程中的错误。

为更好地阐述和交流以上内容，我们拟于12月17日举办“面向设计的向量转换及验证工具”专题讲座，诚挚邀请并期待您的参与。

讲座对象：芯片设计或测试从业人员、其他需要了解此类工具和服务的业内人士
讲座地点：上海市张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼
讲座时间：2013年12月17日（周二）晚 19：00——20：30
以色列TestInsight公司简介：

公司1999年创建至今，总部位于以色列特拉维夫，是业界最大的Design2Test工具提供商，与各家EDA和ATE厂商保持密切合作关系，更是ADVANTEST和TERADYNE唯一指定的原厂伙伴。