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第九届IC测试研讨会火热报名中

时间:2017-04-18 11:55来源:未知 作者:ictest8 点击:

第九届IC测试研讨会
时间:2017年5月13日(周六) 13:30-17:30
地点:上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡(地铁2号线张江高科站)

      
        会议背景:近几年,国家在集成电路(IC)产业已陆续投入了上千亿的扶持资金,IC产业已成为国家最为重视的产业,未来几年将是国内IC产业的高速发展阶段,而高速发展阶段的产品质量至关重要,IC测试作为把控产品质量的最关键环节,已逐渐占居了产业中最重要的地位,IC测试技术也将不断的创新,提高,以前中低端模拟芯片的测试技术已经逐渐被掌握,而高端复杂的芯片测试技术也在不断的引入,本次研讨会我们邀请了业界测试资深人士,针对中高端芯片如混合信号及RF类芯片的测试进行一次经验分享,相信这是一次极难得的技术提高的机会,各位测试的同仁千万别错过!


本期研讨会简要议程如下,具体可能会有调整:

时 间
报告主题
演讲人
13:30-14:00
签到
-
14:00-14:10
开场致辞
-
14:10-14:50
          《RF测试案例----无线物联芯片的测试解决方案分析探讨》
        物联网是未来无线通信的重要应用,目前无线物联网的测试解决方案和标准也是五花八门,在众多的无线连接技术中,应用最广泛和普遍的当属BT/ WiFi/ZigBee这三种技术,他们各有所长,成为物联网无线连接最流行的通信协议。针对这类芯片各ATE厂家也纷纷推出了自己的测试方案,面对这些方案,测试工程师该如何选择最合适的解决方案?今天我们特邀原RDA资深测试主管Shawn,从最基础的射频内容开始,讨论测试工程师可以从哪些方面逐一考量这些方案,选择最适合自家项目的测试解决方案。让我们一起期待这份RF测试的大餐吧!
原RDA资深测试主管
--- Shawn Shen
15:00-15:50
《混合信号测试测量探讨》
      对于测试工程师来说,混合信号的测试相对于模拟或者数字信号的测试会更难一些,参数的意义及理解,测试测量方法均有难度,本次我们邀请了业界混合信号测试大拿--Ju ning,来详细讲解混合信号测试测量技术,Ju ning此前在我们第七届的研讨会曾经分享过混合信号的基础知识,此次将会进一步深入探讨混合信号的测试测量,本主题将会以ADC为实例,分析ADC测试测量硬件平台设计中潜在问题,讲解ADC交直流核心参数及具体算法,结合误差实例分析如何提高测量精度等精彩内容。机会不容错过,同样值得期待!

业界测试技术大拿
---Ju ning

16:00-16:50

《高速Loadboard设计要点及仿真分析》

      做测试的兄弟都知道Loadboard的设计对IC测试至关重要,尤其是高速和RF类芯片就更加重要,可谓生死攸关,设计考虑不周将会直接导致无法使用而直接报废,浪费了金钱是小事,关键是会拖延了产品上市时间,而导致错失市场机会。本主题我们特邀了从业二十多年的季丰电子技术总监---William Wang来给大家分享如何设计一款完美的loadboard,届时他将从各个方面分析设计loadboard所要考虑的问题,并以AP(智能手机应用处理器)外接LPDDR4@3200Mbps时的load board的设计为案例,层层解剖,逐步分析,通过仿真对不同的走线方案做比较,来确定一个最优方案,机会难得,必须来听!

季丰电子技术总监 ---William Wang 
    
17:00-17:30
自由交流、合影留念
-

       如前几届研讨会类似,本次除了技术大餐外,由于赞助方的慷慨解囊,测试组委会同样为大家准备了丰富的礼品, 暂定的爱心赞助商如下,希望同仁们多支持一下:

       本次活动仍以公益为主,场地费、茶点费大家均摊,费用¥50每人,上届参加的同学本届可以免费。特别说明:由于本活动是以技术交流为主,故如有销售人员需要参加,费用为¥100每人,敬请理解~~


        为保证研讨质量,本次研讨会限额150人,报名截止日期5月10日,先报先得,大家抓紧(根据之前的经验,晚了可就连站票都没了!),未提前报名无法参与抽奖……  

      报名请将姓名,性别,职务,电话,公司,公司地址,QQ,Email等信息发送至:邮箱:794277694@qq.com
也可通过Q Q:794277694或微信:13816654535 报名 (添加请注明IC测试研讨会)


       作为经常出差的测试工程师们,我们很少有时间集聚在一起探讨测试技术,交流、分享经验,那么我们测试工程师专属的测试研讨会,将是一个很不错的学习交流机会和经验分享平台,我们建议埋头苦干的你,利用周末的时间来跟业界资深大牛多交流,多沟通,让我们的思路更开阔,让我们的技术更全面,更扎实。同时我们更希望有丰富经验的你,能够参与分享你的宝贵经验,让刚跨入IC测试行业的兄弟们少走些弯路,更快些成长,助人者天助……。

如下为前几届的活动详情,可以先感受一下:

1第八届IC测试研讨会详情    第八届现场报道
2第七届IC测试研讨会详情    第七届现场报道
3第六届IC测试研讨会详情    第六届现场报道
4第五届IC测试研讨会详情    第五届现场报道
5第四届IC测试研讨会详情    第四届现场报道
6第三届IC测试研讨会详情    第三届现场报道
7、第二届IC测试研讨会详情    第二届现场报道
8第一届IC测试研讨会详情    第一届现场报道


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2017.4.18

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