  在高速发展的科技时代，集成电路（芯片）的应用无处不在，芯片质量是品牌信誉和用户安全的守护神。也是关乎公司生死存亡的大事，一款高品质的芯片可能会为公司带来巨额利润，而一款有质量隐患的芯片也可能会让公司倾家荡产。如何提升产品质量成为众多芯片公司的头等大事，可靠性测试作为提升产品质量的重要手段，被越来越多的芯片公司重视起来，掌握先进的可靠性测试技术，不仅是提升产品竞争力的关键，更是每位质量工程师职业生涯中的必修课。上海顶策科技精心打造的《芯片可靠性测试深度解析课程》，将为您揭开可靠性测试的神秘面纱，带您系统学习、并实操两大核心可靠性测试技术：高温工作寿命测试（HTOL）与高加速温湿度应力测试（HAST）。 课程内容： 本次课程从可靠性测试基础开始，详细介绍常见可靠性测试项目的内容及测试方法，以HTOL和HAST两个实施难度较大的可靠性测试为核心，深度解析可靠性测试标准，测试方法，具体方案设计及实施细节，测试案例分享，测试技巧、经验总结等等，系统、全面的讲解可靠性测试技术。主要内容如下：  从近10年来的培训经验来看，目前这种以理论结合实验的培训方式，测试技术最容易掌握，同学们的技术水平也提高最快。通过培训，无经验的测试小白可以独立进行可靠性测试，有少许经验的更会有质的提升，培训结束后我们有相应的考核，通过考核的同学可得到业界认可的芯片测试培训证书。 培训讲师由经验丰富的测试专家主讲，分享行业最佳实践和案例。利用这个机会，把我们积累了20多年的技术经验，以最短的时间，最好的方式分享给大家，让大家能够更快，更轻松的掌握最实用的IC测试技术！ 温馨提醒一下，为保证培训质量，本次培训仅限10人，满额即止，参加的要抓紧哦…… 报名者请联系：刘婷 电话（微信）：13166339996 参加培训人员建议： 1、芯片设计公司质量部门工程师，测试工程师，应用工程师以及设计工程师。 2、芯片封测厂质量部门相关工程师。 3、FAB厂质量部门相关工程师。 4、电子产品厂商或汽车厂商质量部门相关工程师。 5、有志于从事芯片测试的应届毕业生。 培训时间：2024年3月27-29日（周三-周五连续3天） 地点：上海浦东新区海基六路218弄8号楼1-2楼 |
