 3.5.3编程举例：（测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160） ----测试名称:CMRR---- 测量方式:Cmrr Bias 1=-5_-25 V Clamp1=-10.000mA Bias 2=25_5 V Clamp2=10.000mA 测量高限=____dB 测量低限=116dB 测量延迟:10mS 箝位延迟:10mS SKon=[0,4,11,12,13,18,19,23,27] 电压基准源2电压=0V 电压基准源2量程+/-2.5V 电压基准源3电压=-5_5V 电压基准源3量程+/-10V 测试通道 TP1 测量单元 DCV DCV量程 :+/-2V 运算放大器是模拟器件的核心，熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础，掌握了运放的测试，其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚，所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位，故劝各位熟悉并掌握它，现将其各项参数测试具体说明如下：
3.6参数名称：电源电压抑制比PSRR (Power Supply Rejection Ratio)。 3.6.1参数定义：电源的单位电压变化所引起的输入失调电压的变化率。 3.6.2测试方法：测试原理如图7所示。
图7
VL9； 计算公式： PSRR+=((VL9-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf))或 PSRR+=20lg(((VL9-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf)))(dB) ； (5) 负电源电压变化?V，正电源电压为V+,在辅助放大器A的输出端测得电压 VL10； 计算公式： PSRR-=((VL10-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf))或 PSRR-=20lg(((VL10-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf)))(dB) 。 3.6.4编程举例：（测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160） ----测试名称:psrr+---- 测量方式:Psrr Bias 1=-15 V Clamp1=-10.000mA Bias 2=15_5 V Clamp2=10.000mA 测量高限=____dB 测量低限=110dB 测量延迟:10mS 箝位延迟:10mS SKon=[0,4,11,12,13,19,23,27] 电压基准源2电压=0V 电压基准源2量程+/-2.5V 电压基准源3电压=0V 电压基准源3量程+/-2.5V 测试通道 TP1 测量单元 DCV DCV量程 :+/-2V ----测试名称:psrr- ---- 测量方式:Psrr Bias 1=-15_-5 V Clamp1=-10.000mA Bias 2=15 V Clamp2=10.000mA 测量高限=____dB 测量低限=110dB 测量延迟:10mS 箝位延迟:10mS SKon=[0,4,11,12,13,19,23,27] 电压基准源2电压=0V 电压基准源2量程+/-2.5V 电压基准源3电压=0V 电压基准源3量程+/-2.5V 测试通道 TP1 测量单元 DCV DCV量程 :+/-2V 3.7参数名称：输出电压摆幅Vo (Output Voltage Swing)。 3.7.1参数定义：器件在规定电源电压和负载下，所能输出的最大电压。 3.7.2测试方法：测试原理如图8所示。
图8 (1) 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中； (2) 电源端施加规定的电压； (3) 输入端施加规定的正电压。在被测器件输出端测得电压Vo+； (4) 输入端施加规定的负电压。在被测器件输出端测得电压Vo-。 3.7.3编程举例：（测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160） ----测试名称:vo+---- 测量方式:Meter Bias 1=-15.000 V Clamp1=-10.000mA Bias 2=15.000 V Clamp2=10.000mA 测量高限=____V 测量低限=12.5V 测量延迟:10mS 箝位延迟:10mS SKon=[0,4,9,11,13,17,19,23,27] 电压基准源1电压=1V 电压基准源1量程+/-2.5V 电压基准源4电压=1V 电压基准源4量程+/-2.5V 测试通道 TP2 测量单元 DCV DCV量程 :+/-20V ----测试名称:vo- ---- 测量方式:Meter Bias 1=-15.000 V Clamp1=-10.000mA Bias 2=15.000 V Clamp2=10.000mA 测量高限=-12.5V 测量低限=____V 测量延迟:10mS 箝位延迟:10mS SKon=[0,4,9,11,13,17,19,23,27] 电压基准源1电压=-1V 电压基准源1量程+/-2.5V 电压基准源4电压=-1V 电压基准源4量程+/-2.5V 测试通道 TP2 测量单元 DCV DCV量程 :+/-20V |
