 2．2 24LC02的测试 根据I2C总线工作方式，我们将其测试图连接如图5。
芯片中的Start／stop Logic单元处理Start／Stop信号，控制芯片是否开始工作；S1ave address register&comparator单元译码Master发送的Slave address，完成与片选信号的比较，并设定write／read模式；Wordaddress counter单元管理要写入或读取的地址，地址由xdec和ydec单元译码成行地址和列地址，24LC02的EEPROMArray分为64行×4列字节单元。 这里我们对于一些简单的电流测试不再讨论，主要讨论功能测试。
根据以上分析，我们提出如下测试方法： (1)每个字节写入随机码数据，这里随机码我们选择00～FF，共256 bytes，读取看与写入的是否一致 如果该项测试通过，说明芯片基本上工作正常，但不能保证EEPROMArray(2Kbit)所有bit位都能正常写入数据。 这里每个字节写入00-FF保证了写入每个word address的数据都不一样，其目的是验证Word address counter、xdec、ydec等单元是否能正常工作。 假设我们这里每个字节写入相同的数据(如00或FF等)，那么在这种情况下，要是Word address counter无法正常工作，那么我们写入或读取的可能是部分地址所指向的EEpromArray中的bit位，而且无法保证xdec和ydec能正常解码行地址和列地址，譬如说我们对“10101010”word address所指向的字节写入00，如果读取“101010”这个地址数据时，Word address counter、xdec、ydec任意单元发生了错误，那么最终我们读取到的数据就不是“10101010”这个地址所指向的字节数据，也就是说因为每个字节数据是一样的，所以即使写入和读取的地址发生了错位，我们也会认为测试是通过的。
由此可见，要保证Word address counter、xdec、ydec等单元正常工作，我们写入的数据必须满足下列三个条件： 这就是我们选择写入00～FF的理由(当然也可以选择写入其他数据，只要符合上述最后一个条件即可)。 (2)每个字节写入数据00，读取看是否与写入的一致 通过上述第一项测试，其实已经可以基本保证芯片各单元能正常工作，接下来只需测试验证EEPROM Array(2Kbit)中的每个bit位是否良好，这里写入数据00，可排除EEPROM Array(2Kbit)中恒为“1”的bit位。 (3)每个字节写入数据FF，读取看是否与写入的一致 可排除EEPROM Array(2Kbit)中恒为“0”的b“位。 (4)从00H地址开始写入4个字节55，接着写入4个字节AA，如此重复，直至写满256个字节，读取看是否与写入的一致。 EEPROM Array中相邻bit位(包括行相邻、列相邻、对角线相邻)会互相影响。 而24LC02的EEPROM Array分为4列×64行×8bit，所以我们写入上述的数据使得每个相邻bit位的数据都不一样，经过该项测试可排除相邻bit位的数据窜扰。最好是再测试一下写入4个字节AA，写入4个字节55……，看读取与写入的是否一致。 到此我们完成了全部的功能测试。24LC02读写时有page write、byte write、random read、Sequentialread等各种工作模式以及writeprotect功能，这些测试都比较简单，这里就不再一一赘述了。 由此，我们概括出EEPROM的一般测试方法： (1)每个字节写入random code，读取验证是否与写入时一致，从而测试Word address counter、xdec、ydec等单元是否能正常工作；Random code需要满足下面这个条件：写入EEPROMArray的每一个字节数据不一样。 (2)每个字节写入数据00或FF，读取验证是否与写入时一致，排除EEPROM Array中恒“0”或恒“1”的bit位。 (3)对EEPROM Array写入相邻bit位(包括行相邻、列相邻、对角线相邻)都不一样的数据，读取验证是否与写入时一致，排除相邻bit位的数据窜扰。 |
