集成电路测试、筛选

cecclab2010

 

集成电路测试、筛选：

  集成电路设计验证

  集成电路功能测试、参数测试

  集成电路质量一致性检验

  集成电路老化、筛选试验

  集成电路寿命试验

高校集成电路知识实战平台：
   
  高校教师学术交流窗口

  高年级学生实践实习基地

集成电路可靠性评估：

  ESD等级、Latch-up测试评估

  裸芯片测试、老化、筛选评估

集成电路赝品鉴定:

  再卖市场的集成电路赝品鉴定鉴定

制造工厂来料质量管理体系完善:

  指导工厂完善来料质量管理体系

  培训质检人员掌握集成电路测试理论与方法

专业制作完善PDF格式中英文资料:

  提供专业的半导体中英文资料翻译

  提供专业的半导体行业美工设计指导

注意： IC解剖分析及正反向设计暂不对外公开业务，只限于内部企业会员技术研究交流。

工程项目：

针对IC设计企业客户的服务项目

  提供晶粒样品邦定, 测试验证服务

  制作测试夹具, 开发测试程序或转换测试程序

  ESD静电放电测试及Latch-up闩锁测试

  DECAP开封去层, 染色码及显微拍照

  FIB 聚焦离子束微线路修复

  分析测试数据, 编写产品规格书（包括绘制相应矢量示意图形），专业翻译产品规格书 (目前仅仅限于中、英、韩、日、法五类语种)