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如何才能达到精准的IC测试呢，先抛几块砖头：
今天之所以要讲这个话题,主要是因为我看到现在还有不少的测试工程师还在把测试开发当作一个纯软件的工作.从软件的角度来看,输入固定的信息一般总是可以获得确定的结果,无论重复多少次.然而硬件开发却不是这样的,硬件存在着各种确定或不确定的因素干扰,导致获得结果具有一定的不确定性,就是通常我们说的误差.测试开发包含很多的硬件开发的成分在里面,所以也绕不开误差这个话题。
说到误差,首先还是要说说一个典型的测试过程的误差的来源:
1) 来自电源和地的误差.理论上电路的电源和地的电势是稳定的,除直流以外,其它任何频域里的分量都为零,这样才能确保电路的稳定准确工作.然而实际上这是做不到的.来自环境,测试设备本身以及芯片本身的各种干扰都会影响电源和地的电平稳定性,而且这种干扰会最终耦合到输出信号上,从而形成误差.通常这些问题除了测试机本身的问题以外,主要都是因为电路板硬件设计的问题导致的,比如EMC的对策不良,电源完整性和信号完整性设计的缺陷
2) 来自信号的误差.无论是测试机提供的各种信号还是其它外围电路提供的信号,天然就不可能是完美的,即存在各种噪声和偏离.这些偏差都有可能以各种形式被耦合到芯片输出信号上.测试设备无从区分真实信号和噪声,从而引起测试的误差.一个经常发生但有容易被忽略的是参考时钟上的相位噪声.电子设计工程师在选择时钟时往往会只考虑时钟频率是否符合,而无视噪声的特性.而时钟上的噪声如果超过允许范围,则往往会导致芯片性能的大幅下降.这个话题很大,具体就不在本文里展开讨论了。
3) 外来的干扰往往也会影响芯片的工作.我们经常听说的crosstalk就是一例.攻击信号线上的高频信号分量有可能会耦合到附近的信号线上,从而在被攻击信号线上形成多余的信号,也就是噪声.当然,外来的干扰的形式很多,有时候环境湿度和温度都有可能影响到电路工作的结果.保持测试环境的稳定以及正确的电路板设计是确保干扰最小化的良策.可惜的是,我看到目前多数测试工程师在这方面的知识积累很薄弱,根本无从在硬件设计 |
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发表于 2014-2-18 15:20:44