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并行测试技术

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zhanghb

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IC测试新手

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701
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楼主
发表于 2010-9-20 11:09:10 | 显示全部楼层 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
请教：

在进行圆片多SITE 并行测试过程中，常常出现测试不稳定现象， 如1个SITE 正常测试，另一个SITE接触有问题， 还出现低良率，不知是探针的问题，还是ATE 问题，还是测试程序需完善？
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