IC测试电路

admin

这两个电路颇有意思，能够很清楚的分析出他们，说明对运放已经三极管的特性都掌握的比较好，是两道不错的IC测试面试题，欢迎大家共同探讨！
在此先抛块砖头：
1、对于第一个电路，首先要了解open-short测试原理，其实就是测试各引脚对地（有时对电源也测）ESD保护二极管，图中general所示，当short时说明对地二极管短路了，像导线一样，无压降和电阻，当open时，二极管开路，电阻和压降都很大。而且一般测试时设置的电流Ios为-100ua到-500ua之间，图中我们根据理想运放的特性可以计算出：当R都为10K时，第一个运放的输入VIN为-1V时，所设置的Ios=-100UA，而第二个运放的输出VO为2倍的Vos，所以，当我们设定Vos的spec为-0.3～-0.8V时，只要测试VO的电压是不是在-0.6～1.6V之间就可以了
2、第二个电路实际是个过流保护电路，当10 Ohm电阻上电流大于70mA时（也就是电阻上压降大于0.7V时，硅管导通电压一般在0.7V左右），靠近运放的三极管开始导通，这样就可以保护另外一个三极管不被过大的电流烧坏。

在下愚见，不正确的地方欢迎指出

[此贴子已经被作者于2010-8-2 14:02:02编辑过]