有奖测试解决方案-锂电池测试！！！

admin

问题描述：
    锂电池测试的时候，需要trimming翻转电压，翻转电压通过扫描来测量，用AST测试时，可否4个site同时扫描，分别得出每颗的翻转电压，4颗的扫描时间等于翻转最晚那颗的时间。项目datasheet及test plan见附件，请大家参考


欢迎大家回帖发表自己的解决方案，最好附带测试程序。截至日期2009-8-15
特别说明：鉴于目前还没有合适的解决方案，我们将截至日期推迟到2009-9-15，特此通告！
我们将针对所有解决方案进行网友投票以及专家认定，获胜者将得到由江阴佳泰电子科技有限公司提供的精美礼品一份！！

[此贴子已经被作者于2009-8-19 9:51:11编辑过]

朱勤华

我的办法是：用431做个恒流源，对一电容充电，使之电压斜波上升，同时加一缓冲运放到被测脚；同时输出脚连一比较器，待电平切换时通过比较器关掉恒流源；此时用tester直接测量电容脚电压（最好加个缓冲OP）即可。
该法特点：成本超低，就一431，一mosfet做开关，一双路运放，一比较器，几个电阻，一电容，绝对少于10元。哦，还要加个Relay，电容要放电。

缺点：电路稍微复杂了一点点。电容回路漏电要控制好。

sundong

4个资源接4个继电器中间端，常闭端分别接4site的CO脚，常开端同时接一资源，H-L的话常开端资源给4V，L-H的话常开端给0V
利用TMT和eagle的 multi site测试方法能比较简单的实现，AST也差不多，4个dvi0接VDD，4个dvi1接CO。4site继电器relay控制分别为 1 2 3 4,程序中VDD,CO都为GROUP变量
float vin = 4.21f;
 dc_connect(VDD,CLOSE);
 dc_connect(CO,CLOSE);
 int count=0;
  while(vin<4.7f&&vin>4.2f)
 {
       dc_force(VDD, 200e-3f, vin);
       delay(3);
       dc_measure(C0, MEASURE_VOLTAGE , v1,10);
       for(int site=0;site<4;site++)
       if(v1[site]<1.0f)
       {
          v2[site]=vin;
          relay_connect(site+1，CLOSE);
          delay(3);
          count++;
          if(count==4)
               break;
       }
       vin += 50e-3f;
 }

[此贴子已经被作者于2009-7-23 8:00:17编辑过]

多工位并测，要考虑一些东西，比如不良重测的时候。多工位并测程序在ast平台上已有成功测试程序。mike.

j_j_s

以下是引用朱勤华在2009-7-22 18:22:33的发言：

我的办法是：用431做个恒流源，对一电容充电，使之电压斜波上升，同时加一缓冲运放到被测脚；同时输出脚连一比较器，待电平切换时通过比较器关掉恒流源；此时用tester直接测量电容脚电压（最好加个缓冲OP）即可。
该法特点：成本超低，就一431，一mosfet做开关，一双路运放，一比较器，几个电阻，一电容，绝对少于10元。哦，还要加个Relay，电容要放电。

缺点：电路稍微复杂了一点点。电容回路漏电要控制好。

时间上不知道会不会比较长，需要一些额外的动作，如电容放电什么的，电压上升是从0开始呢还是从哪里？

j_j_s

以下是引用sundong在2009-7-23 0:39:05的发言：
4个资源接4个继电器中间端，常闭端分别接4site的CO脚，常开端同时接一资源，H-L的话常开端资源给4V，L-H的话常开端给0V
利用TMT和eagle的 multi site测试方法能比较简单的实现，AST也差不多，4个dvi0接VDD，4个dvi1接CO。4site继电器relay控制分别为 1 2 3 4,程序中VDD,CO都为GROUP变量
float vin = 4.21f;
 dc_connect(VDD,CLOSE);
 dc_connect(CO,CLOSE);
 int count=0;
  while(vin<4.7f&&vin>4.2f)
 {
       dc_force(VDD, 200e-3f, vin);
       delay(3);
       dc_measure(C0, MEASURE_VOLTAGE , v1,10);
       for(int site=0;site<4;site++)
       if(v1[site]<1.0f)
       {
          v2[site]=vin;
          relay_connect(site+1，CLOSE);
          delay(3);
          count++;
          if(count==4)
               break;
       }
       vin += 50e-3f;
 }

[此贴子已经被作者于2009-7-23 8:00:17编辑过]

听工程师说，这个程序刚开始就试过，效果不好，速度比串扫还慢

sundong

具体我没试过，最近要做这种产品，刚好试下
从逻辑上讲，是并行测试，时间是最慢的那颗的时间，应该不会慢

cirmud

我请教我们公司的设计，老朱的方法是比较可行的，只是要考虑电容的漏电问题

admin

对于老朱的办法最好传个电路图上来，这样比较容易理解，
另外，我有个疑问：tester在什么时间点去测量电容脚电压，也就是说tester怎么知道什么时候恒流源被关断了，这个时间点4site怎么同时检测？

不错不错 就是该这样子才好

楼主辛苦了哦 我们永远支持你

[此贴子已经被admin于2009-7-25 13:02:57编辑过]