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    <title>IC测试论坛--专业IC测试网 - 大规模混合信号SOC芯片测试技术</title>
    <link>http://ictest8.com/bbs/forum.php?mod=forumdisplay&amp;fid=16</link>
    <description>Latest 20 threads of 大规模混合信号SOC芯片测试技术</description>
    <copyright>Copyright(C) IC测试论坛--专业IC测试网</copyright>
    <generator>Discuz! Board by Comsenz Inc.</generator>
    <lastBuildDate>Wed, 29 Apr 2026 19:35:31 +0000</lastBuildDate>
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      <title>IC测试论坛--专业IC测试网</title>
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      <title>[求助]有关测试矢量与故障模拟的问题</title>
      <link>http://ictest8.com/bbs/forum.php?mod=viewthread&amp;tid=1056</link>
      <description><![CDATA[本人正在寻找一款软件，要求
1、在给定benchmark电路的情况下，输出故障压缩后的全部故障列表；
2、给定一个矢量，获得该矢量能够检测到的故障列表。

由于现有大多ATPG软件多是给定电路，自动生成矢量，上述两个工作都是在软件内部完成，外部看不到结果，寻找多日，一 ...]]></description>
      <category>大规模混合信号SOC芯片测试技术</category>
      <author>cyan</author>
      <pubDate>Mon, 27 Dec 2010 02:19:17 +0000</pubDate>
    </item>
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      <title>BGA封装器件缘何测试时间超长</title>
      <link>http://ictest8.com/bbs/forum.php?mod=viewthread&amp;tid=909</link>
      <description><![CDATA[&amp;nbsp; 
Cecclab言论：BGA封装器件缘何测试时间超长？
测试时间是由什么决定的？有些器件测试的时间为什么那么长？
测试一般包括制作夹具、上机台调试程序、逐个测试。知道了测试的过程就大概明白了测试时间长短的关键因素。对于一个新的测试案例，我们首先要做的就是要 ...]]></description>
      <category>大规模混合信号SOC芯片测试技术</category>
      <author>cecclab2010</author>
      <pubDate>Mon, 19 Apr 2010 07:30:45 +0000</pubDate>
    </item>
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      <title>ADC测试应该怎么搭建测试平台(转帖)</title>
      <link>http://ictest8.com/bbs/forum.php?mod=viewthread&amp;tid=847</link>
      <description><![CDATA[ADC测试应该怎么搭建测试平台&amp;nbsp;&amp;nbsp;&amp;nbsp;&amp;nbsp;&amp;nbsp; 我现在在做一个音频IC的测试方案，有关ADC/DAC 的测试之前没接触过，对于它们的参数的测试方法和测试环境不是很清楚。以下是IC的一些指标：DAC&amp;nbsp; SNR94dB ，THD-85DB ADC&amp;nbsp; SNR87dB，THD-85DB应该需 ...]]></description>
      <category>大规模混合信号SOC芯片测试技术</category>
      <author>admin</author>
      <pubDate>Wed, 15 Jul 2009 03:29:43 +0000</pubDate>
    </item>
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      <title>在IC测试中如何应用欠采样理论进行波形的抓取</title>
      <link>http://ictest8.com/bbs/forum.php?mod=viewthread&amp;tid=845</link>
      <description><![CDATA[各位在实际的IC测试中有没有用过欠采样理论，在程序中如何实现，可否分享一下？]]></description>
      <category>大规模混合信号SOC芯片测试技术</category>
      <author>ictest</author>
      <pubDate>Tue, 07 Jul 2009 01:47:28 +0000</pubDate>
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