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标题: [求助]成品测试会提供哪些报告？ [打印本页]

作者: bbhscj 时间: 2010-7-5 15:02
标题: [求助]成品测试会提供哪些报告？
芯片测试结果会提供MAP图和测试结果数据！
成品电路测试可以提供哪些报告呢？哪位高手指点一下

作者: admin 时间: 2010-7-5 15:27

成测可以提供良率报告和测试数据

作者: bbhscj 时间: 2010-7-6 08:40
谢谢回复
量产时和测试工厂联系，良率报告是有的，但测试数据不返回
本来我认为应该还有失效分布图等等不知这些有没有？

作者: admin 时间: 2010-7-6 09:33

良率报告里应该有失效分布，也就是各参数失效的具体数量，测试数据是可以要到的，不过一般对于小客户，测试厂都不主动提供，需要自己沟通索要

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